牛津仪器EBSD C-Swift探测器

型号：

C-Swift

产地：

英国

C-Swift是CMOS探测器家族的新成员，专为常规材料分析和快速样品表征而设计。
C-Swift继承了Symmetry的许多优点，包括为EBSD专门定制CMOS传感器。这些优点使得C-Swift也成为一种开创性的EBSD探测器。

C-Swift是一个先进、高速EBSD探测器。与Symmetry探测器一样，C-Swift使用定制的CMOS传感器来实现高速和高灵敏度，以确保即使在更具挑战性的材料上也能获得高质量的结果。

C-Swift速度高达1000pps，同时可获得高质量的花样分辨率(156x128像素）。这相当于基于CCD的探测器以相似速度运行时所采集花样像素数的4倍，确保所有类型样品的可靠标定和高命中率。无失真光学系统与AZtec软件中强大的标定算法结合，使C-Swift能够提供优于0.05°的高角度精度。对于需要更高质量花样的应用,  C-Swift可以以高达250pps的速度采集622x512像素的花样，使其成为复杂的多相样品和精细的相分析的理想选择。

这是专为快速、有效的样品表征而设计的探测器。系统的每个组件，从独特的接近传感器到可选的集成前置探测器，都经过设计, 旨在更大限度地提高性能和易用性, 并使EBSD成为每个实验室的标准工具。

确保1000 点/秒的标定速度

在250点/秒速度下，采集622x512像素的EBSD花样

对低能量和低束流分析具有非常高的灵敏度

无失真图像

当速度是关键时，C-Swift探测器达到了一个新标准：

仅需要12nA的电子束流，就能保证1000pps的标定速度

高速下的156x128像素的花样分辨率——同等速度下快速CCD探测器的4倍

全分辨率花样（622x512像素）——精细的相分析和形变分析的理想选择

低失真光学系统, 确保角度精度优于0.05°

优化的高灵敏度荧光屏, 确保低剂量和低束流能量下的高质量的花样——实现更大的空间分辨率

即使在快速下也能实现无缝的EDS集成

波纹管SEM接口，保持SEM真空完整性

独特的接近传感器——在可能发生的碰撞发生之前自动将探测器移动到安全位置

简单直观的探测器设置，确保每次都能获得良好的效果

五个集成的前置探测器, 提供全彩色通道衬度图像和原子序数衬度图像

注：该仪器未取得中华人民共和国医疗器械注册证，不可用于临床诊断或治疗等相关用途