TOF-SIMS 飞行时间二次离子质谱仪

质量分辨率：

>2500m/δm (FWHM)

质量范围：

>1000 amu

质量准确度：

±0.005 amu

Kore SurfaceSeer S在TOF-SIMS （飞行时间二次离子质谱仪） 系 列中，是一款高性价比且经久耐用的产品。它是研究样品表面化学成分的理想选择，适用于研发和工业质量控制应用。

飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS），也叫静态二次离子质谱，是飞行时间和二次离子质谱结合的一种新的表面分析技术。TOF-SIMS具有高分辨、高灵敏度、精确质量测定等性能，是目前高技术领域广泛使用的分析技术。

Kore SurfaceSeer S使用的是5keV Cs+离子束（可选惰 性气体Ar+），该离子束是脉冲式的，以z大限度地减少连续离子束可能造成的表面损伤。 在每100µs TOF 循环中，该离子枪的脉冲时间仅为60ns，因此，主光束提供的电流比连续打开时少1000倍以上。典型的10s实验时间所产生的电流仅相当于几毫秒的连续光束电流。 要达到所谓的“静态SIMS”极限，需要在一个点上进行几分钟的分析，在这个点上，表面损伤在数据中变得清晰可见(取决于焦点和光 束电流)。尽管离子剂量较低，这款TOF分析仪还是非常高效的，这就说明了它具有较高的二次离子数据速率（即使在离子产率相对较低 的聚合物上，也通常为5000 c/s）。

SurfaceSeer S 仪器特点：

• 配备5keV Ar+/Cs+脉冲式离子束，以z大限度地减少连续离子束可能造成的表面损伤，实现样品“无损”分析；
  

• 针对工业领域的低成本TOF-SIMS仪器；

• 均适用于导电物体表面和绝缘物体表面的分析 ；

• 可在1~2min内实现高速率的正负质谱分析；

• 质量分辨率可达 >2,500 m/δm (FWHM)；

• 适用于导电物体表面和绝缘物体表面的分析。

SurfaceSeer S 应用领域:

• 表面化学

• 黏附力

• 分层

• 印刷适性

• 表面改性

• 等离子体处理

• 痕量分析（表面ppm）

• 催化剂

• 同位素分析

• 表面污染