第1年
Andor科学级像增强IsCMOS相机iStar
APL手持式激光诱导击穿光谱系统LIBS
HORIBA成像光谱仪iHR 320/550
Andor科学级像增强ICCD相机iStar CC
HORIBA高光谱分辨率研究级显微拉曼
APL研究级激光诱导击穿光谱系统LIBS
Flir科学级高分辨率中波红外热像仪X
- 型号：
- C11367系列
- 产地：
- 日本
C11367紧凑型荧光寿命测试仪是一款针对发光材料、光伏器件以及半导体材料荧光寿命测量的紧凑型集成化设备。C11367集成探测器、激发光源、分光装置以及样品仓为一体，极大地节省了空间，同时全自动控制软件协调各部分的功能，实现测量的自动化，只需要四步即可得到结果。C11367提供的外接光源接口，可以外接多种光源实现不同的测试需求。外接闪烁氙灯，可以实现长寿命磷光材料的寿命测量；外接皮秒激光器，可以实现亚纳秒级的荧光寿命测量以及低发光效率的寿命测量。
产品指标：
型号 | C11367-31 | C11367-34 | C11367-32 | C11367-35 |
样品类型 | 溶液, 薄膜 | 固体 （薄膜,粉末） | 溶液, 薄膜 | 固体 （薄膜, 粉末） |
探测器类型 | 标准型 | 近红外型 | ||
波长范围 | 300nm – 800nm | 380nm –1030nm | ||
激发光源 | 7个波长LED光源（280nm, 340nm, 365nm, 405nm, 470nm, 590nm或630nm） | |||
激发光源选择 | 软件控制 | |||
单色仪 | Czerny-Turner型单色仪 | |||
测量时间范围 | 4 ns – 10 s/满量程 | |||
磷光测试 | 磷光激发波长（280nm, 340nm, 365nm, 405nm, 442nm, 470, 589nm或632nm） | |||
时间轴通道数 | 512ch，1024ch，2048ch，4096ch | |||
整体时间分辨率 | <1ns | |||
分析功能 | 荧光寿命分析（可分析5种荧光寿命组分）及光谱分析 | |||
配件：
型号 | 说明 | 标准 配置 | 磷光寿命测试 | 亚纳秒级寿命测试 | 控温低温测试 | 液氮低温测试 |
C11367 | 荧光寿命测量系统 | ● | ● | ● | ● | ● |
A11797-02 | 液氮低温测试样品仓 | ━ | ━ | ━ | ━ | ● |
A12268-01 | 牛顿低温恒温器样品仓 | ━ | ━ | ━ | ● | ━ |
A11238-04 | 液氮低温测试样品托台 | ━ | ━ | ━ | ━ | ● |
C11567-02 | 闪烁氙灯 | ━ | ● | ━ | ━ | ━ |
A12991-XXX | 紫外带通滤光片 | ━ | 可选 | ━ | ━ | ━ |
A13905-XXX | 可见光带通滤光片 | ━ | 可选 | ━ | ━ | ━ |
PLP-10 | 皮秒激光器 | ━ | ━ | ● | ━ | ━ |
A12487-01 | 皮秒激光器适配器 | ━ | ━ | ● | ━ | ━ |
应用案例：
- TADF材料荧光寿命的温度依赖性
- 稀土化合物的发光特性
注：该仪器未取得中华人民共和国医疗器械注册证，不可用于临床诊断或治疗等相关用途
鲁公网安备37021402001368号