第1年
德国STOE X射线单晶衍射仪 IPDSⅡ
Xenocs X射线小角散射仪 Xeuss2.0
XENOCS X射线小角散射仪Nano-inXide
PheniX英国OXFORDCRYOSYSTEM低温冷
德国STOE X射线粉末衍射仪 STADI P
Pilatus3X CdTe 系列探测器
- 传感器材料：
- CdTe
- 计数器深度：
- 20 bits
- 能量范围：
- 8-40 keV
产品名称：PILATUS3 X CdTe-瑞士DECTRIS混合像素光子计数X射线探测器
品牌：德科特思（DECTRIS）
产地：瑞士
1、产品特点：
新一代表现更加出色的PILATUS3混合像素X射线探测器，采用更加优越的碲化镉（CdTe）材料作为传感器，PILATUS3 X CdTe单光子计数探测器的探测能量可以达到100KeV。PILATUS3 X CdTe探测器可以满足对硬X射线的有效探测，再加之PILATUS探测器的即时再触发技术的全面提升及其完美结合，使探测器的计数率和稳定性得到了大大的提高。在2.5x106/s/像素的数个小时的计数过程中，误差仅仅只有1%，20位计数器结合无噪声特点，提供了探测器足够的动态范围和数据质量，每秒500张的图像获取能力，让图像没有任何滞后。PILATUS3 X CdTe探测器系列为硬X射线探测，已完全结束成像过程中的图像等待。这在X射线的领域中我们实现了这项梦寐以求的技术。
2、核心优势：
–高量子效率，能量范围20KeV-100KeV
–稳定的计数率
–无读出噪声和暗电流
–无图像滞后
–的点扩散函数
–帧速率达500Hz，即每秒钟可以采集500张图像
–20位无溢出计数器
–常规室温下操作
–系统集成方便
3、应用领域：
–X射线衍射
–高能量X射线衍射
–X射线衍射层析成像和显微镜
–X射线粉末衍射
–功能分析
–高压/高温X射线衍射
–非弹性散射
–X光漫散射
–时间分辨/原位实验
技术参数：
|
PILATUS3 X CdTe |
300K |
300K-W |
1M |
2M |
|
探测器模块数量 |
1 x 3 |
3 x 1 |
2 x 5 |
3 x 8 |
|
有效面积：宽×高 [mm²] |
83.8 x 106.5 |
253.7× 33.5 |
168.7 ×179.4 |
253.7 × 288.8 |
|
像素大小 [μm²] |
172 x 172 |
|||
|
总像素数量：（水平x垂直） |
487 × 619 |
1475 × 195 |
981 × 1043 |
1475 × 1679 |
|
计数率 |
5x106 counts/s/pixel（1.7x108counts/s/mm2） |
|||
|
间隙宽度, 水平/垂直 [像素] 每个模块加上3个像素的水平间隙 |
-* / 17 |
7* / - |
7* / 17 |
7* / 17 |
|
非灵敏区 [ % ] |
6.1 |
1.6 |
7.8 |
8.5 |
|
缺陷像素 |
<0.1% |
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|
帧频 [Hz] |
500 |
500 |
500 |
250 |
|
读出时间 [ms] |
0.95 |
|||
|
点扩散函数 |
1 pixel (FWHM) |
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|
阈值能量 [keV] |
8-40 |
|||
|
计数器深度 |
20 bits(1,048,576 counts) |
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|
功耗 [W] |
30 |
30 |
165 |
250 |
|
尺寸（WHD）[mm³] |
158 x 193 x 262 |
280 x 62 x 296 |
265 x 286 x 455 |
384 x 424 x 456 |
|
重量 [kg] |
7.5 |
7.0 |
25 |
46 |
|
模块冷却 |
水冷 |
|||
|
电子冷却 |
水冷 |
风冷 |
||
|
外接触发电压 |
5V TTL |
|||
鲁公网安备37021402001368号