PCM结晶监测系统

PCM的基础是实时影像，它为您提供有关工艺过程有价值的可视化信息。此外，t结晶监测系统（PCM）的图像分析算法可以检测图像数据中的晶体和其它粒子，获得过程结晶分布的实时统计结果并生成关于其特征以及其它悬浮体特性的详细实时数字信息。

结晶监测系统（PCM）专为在线测量结晶工艺过程而设计。该系统结合了原位工艺过程显微镜与先进的图像分析技术。

PCM提供工艺过程的实时影像视图和关于晶体特征的详细分析数据，例如尺寸分布，形态和浓度。

PCM的测试结果可以有效地帮助过程优化、过程控制和故障排查。使用PCM可以帮助提高过程产能，降低最终产品的质量波动。PCM具有灵活的安装机制，它可安装在从实验室到规模生产阶段的反应釜及结晶器多种设备中。这种技术可以被用于连续生产过程或批次生产过程。

- 晶体尺寸分布和相关统计（平均值和标准偏差; D10，D50，D90等)

- 晶体生长速率

- 晶体长径比

- 测试区域的晶体数量和成核速率

- 体系流动性

- 晶体尺寸累积分布（D10, D50, D90等）

- 微晶和粗晶百分比

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