Joule Yacht 霍尔效应测试系统 HET

型号：

HET

产地：

湖北

霍尔效应测试系统依据范德堡法则测量材料的电运输性能参数：载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或薄层材料均可测量，可应用于所有半导体材料，包括Si、ZnO、SiGe、SiC，GaAs，InGaAs，InP，GaN（N型&P型均可测量）,广泛应用于国内高校、研究所、半导体、金属、高热导有机新材料等行业。

霍尔效应测试系统产品特点

自主知识产权产品。

采用高精密度恒流源和电压表，确保仪器测试的良好准确度和高稳定性，性能优越。

自动控制磁场方向的改变，更加方便准确。

样品装夹方式快速方便，且使用能够解决欧姆接触的样品芯片。

产品工业外观采用一体化、精密化设计，融入人性化的设计理念，不仅赏心悦目而且操作方便。

智能化的用户界面操作简单，功能齐全的软件平台带给客户友好的操作体验，使测试过程更加方便快捷。

霍尔效应测试系统技术参数

型号	HET-RT	HET-HT
磁场强度	6800Gs	5000Gs
磁场稳定性	±2％/每年
温度范围	RT	100K~600K（可连续变温）
温控精度		±0.5K
输出电流	100pA-100mA
迁移率	1-107cm2/Volt-sec
阻抗	10-6 -107?·CM
载流子浓度	107 -1021cm-3
样品测量板	样品边长5-20mm，厚度10nm-3mm	样品边长5-15mm，厚度10nm-1mm
主机尺寸	570x545x380，单位mm
重量	50kg	80kg

霍尔效应测试系统测试实例

山东大学钛酸锶陶瓷样品测试结果

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太原理工硅化镁样品测试结果

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注：该仪器未取得中华人民共和国医疗器械注册证，不可用于临床诊断或治疗等相关用途