高磁场霍尔效应实验仪面议
电磁铁型霍尔效应测试面议
探针座CB-40面议
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CGO-4高低温真空探针面议
CS-4探针台系统面议
WT-2000型少子寿命测￥100000.00/
DLS-83D型深能级瞬态￥50000.00/
塞贝克热电效应测试仪￥50000.00/
￥280000.00/
￥68000.00/
￥50000.00/
￥210000.00/
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企业名片
少子寿命测量仪BCT-400
BCT-400测量系统不需要做表面钝化就能直接测量单晶和多晶硅（锭或块）的少子寿命.
因为少子寿命作为衡量生长和缺陷含量的的最敏感的技术参数，这个工具直接获得长硅的质量参数。
作为最易于使用的测量工具－－BLS，只需要有直径150mm大小的平面。如果只是测量平面样品的话，请选择BCT-400。
注：该仪器未取得中华人民共和国医疗器械注册证，不可用于临床诊断或治疗等相关用途
￥20000.00/
￥800000.00/
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￥800000.00/
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￥800000.00/
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￥50000.00/
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