第1年
探针式表面轮廓仪DektakXT
布鲁克透射电镜专用原位纳米力学系
布鲁克高精度纳米力学测试系统TI 98
高品质双光子成像系统BrukerInvesti
快速扫描纳米红外光谱Anasys nanoIR
扫描探针显微系统Dimension Icon
摩擦磨损试验机UMT-TriboLab
布鲁克三维光学显微镜Contour Elite
- 型号：
- ContourGT
- 产地：
- 美国
ContourGT表面计量系列产品
用于生产和研发的非接触式三维光学轮廓仪
30年技术革新，实现非接触式表面测量技术高峰
ContourGT系列结合先进的64位多核操作和分析处理软件，专利技术白光干涉仪（WLI）硬件和前所未有的操作简易性，推出历年来来最先进的3D光学表面轮廓仪系统。第十代光学表面轮廓仪拥有超大视野内埃级至毫米级的垂直计量范围，样品安装灵活，且具有业界最高的测量重复性。ContourGT系列是当今生产研究和质量控制应用中，最广泛使用和最直观的3D表面计量平台。 业界最高的垂直分辨率，最强大的测量性能多核处理器下运行的Vision64™ 软件，大大提高三维表面测量和分析速度
测量硬件的独特设计增强生产环境中的可靠性和重复性
高度直观的用户界面，拥有业界最强的操作简便和分析功能强大
我们的干涉仪是世界上第一个包含了著名的垂直扫描干涉技术（VSI模式），扫描头倾斜调整，专利的自动校准和双LED照明等革新技术。
ContourGT系列既结合了这些已被证实的设计功能，又在硬件上进行了大量的改进，从而给用户提供了目前世界上最精确的、重复性最好的光学轮廓仪性能。 Bruker的光学轮廓仪具有已被证实的，将近三十年的优越性能运行跟踪记录，从研究型实验室到生产型工厂的上万台安装记录。
ContourGT-X光学轮廓仪配备有一体式的气动平台和双层金属铸件，此两种设计都是为了隔离震动以避免干扰测量效果，从而获得快速、精确的、可通过GRR测试的测量结果。
OMM结合了Bruker专利的双LED照明光源技术，在任何样品任意放大倍数下均可提供卓越的照明强度和均匀性。OMM还能在整个10mm测量量程内提供无以伦比的准确性和可重复性。马达驱动的多放大倍率检测器可包含最大三个视场目镜，以最大化放大倍率的灵活性和稳定性。
ContourGT系列可选择型号中，具有包含Bruker专利技术的内置一级标准自校准功能的能力，使得闭环扫描的性能最大化。此模块包含一个参考信号，在仪器启动时对系统进行自校准，然后连续监控并校正每次测量，以保证绝对的精确度和卓越的重复性。
Bruker的倾斜调整支架设计可使得OMM倾斜，而不是样品倾斜。这样，被测量的样品将总处于聚焦位置，并且在测量的视野中，确保了操作的一致性和简易性。
*这些选项仅在ContourGT-X3和/ContourGT X8型号上具有。
在ContourGT-X型号中具有全自动的8英寸或12英寸样品台。两种样品台均配备有0.5um重复性的编码器。ContourGT-K1型具有可选的6英寸马达驱动样品台。还可选配具有Z方向聚焦旋钮的XY操纵杆。
选配的马达驱动塔台可安装最多4个干涉物镜，从1倍至100倍。塔台设计确保了当您切换物镜时，您的测试点始终处于聚焦和中心位置。
注：该仪器未取得中华人民共和国医疗器械注册证，不可用于临床诊断或治疗等相关用途
鲁公网安备37021402001368号