马尔形貌轮廓表面粗糙度测量仪

型号：

MARSURF XC 2 MIT

产地：

德国

精密轮廓测量入门之选

测量和评估工件和工具上与功能相关的几何参数是研究、设计和工业的基本要求。相对其他方法，快速、简单而经济的 2D 轮廓测量系统受到越来越多的青睐。MarSurf XC 2 可满足精度和评估标准范围相关的各方面需求。同时，它还能提供安全而可靠的结果。

利用相关元件，更换基准元件后可立即对基准元件相关的参数重新计算。

密码保护用户访问权限，避免不当使用

以多年经验为基础的出色校准流程，包括几何形状校准、测量力校准、弯曲补偿等等

稳定、坚固的测头

平滑运行，稳定而准确的驱动装置

根据各种调整速度自动降低和抬高测杆

高定位精度

专利测杆固定技术，防碰撞保护

接触速度（Z 方向）	0.1 至 1 mm/s
测杆长度	175 mm, 350 mm
测量速度（文本）	0.2 mm/s 至 4 mm/s
针尖半径	25 μm
扫描长度末尾（X 方向）	120 mm
分辨率	Z 方向，相对探针针头：0.38 μm（350 mm 测杆）/ 0.19 μm（175 mm 测杆） 在 Z 方向，相对于测量系统：0.04 μm
扫描长度开始（X 方向）	0.2 mm
取样角	在平滑表面上，取决于偏差：后缘高至 88°，前缘高至 77°
定位速度（文本）	X 方向返回速度：0.2 至 8 mm/s Z 方向：0.2 至 10 mm/s
导块偏差	< 1 μm（超过 120 mm）
测量范围 mm	（Z 方向）50 mm
扫描长度（文本）	0.2 mm 至 120 mm
测量力 (N)	1 mN 至 120 mN




注：该仪器未取得中华人民共和国医疗器械注册证，不可用于临床诊断或治疗等相关用途