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OptoTop® 高精度纳米级三维形貌仪

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INNOWEP
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北京
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产品详情
型号:
OptoTop®
产地:
德国

OptoTop® 高精度纳米级三维形貌仪



设备介绍:
OptoTop®不仅可以测量材料的表面三维形貌,而且可以测量表面的颗粒度,纳米颗粒大小和粗糙度,以及复杂的表面磨耗性能。OptoTop®可满足研发、磨损分析、失效分析及工艺控制等领域的需求。

设备优点:

¤ 操作简便
¤ 高速数据采集能力
¤ 强大的数据分析能力
¤ 对各种材料和涂层进行智能测量
¤ 线性轮廓的微粗糙度值
¤ 实现2-D线性剖面,3-D显示表面轮廓及高度剖面

应用领域:

◆ 平坦、结构性及弯曲表面的粗糙度及结构分析
◆ 测量宏观和微观的几何结构
◆ 表面控制,例如滚动起伏(选购配件:移动式装置)


技术资料
 

感应度白光共聚焦
测量范围Z*300µm1mm 2mm
解析度 Z*12nm25nm75nm
侧向解析度1.55µm2µm4µm
测量感应距离11mm12.7mm16.4mm
测量频率30 Hz, 100 Hz, 300 Hz, 1 kHzv
标准XY轴试验范围60 x 60 mm
移动速度0.1 - 10 mm/s
标准样品台大小165 x 165 mm 或定制品




注:该仪器未取得中华人民共和国医疗器械注册证,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

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