大塚电子显微分光膜厚仪OPTM

型号：

OPTM

产地：

日本

显微分光膜厚仪OPTM series

OPTM显微分光膜厚仪是FE-3000反射分光膜厚计的第二代产品。OPTM沿用分光干涉法，可测量绝对反射率、多层膜厚、折射率和消光系数，纳米级测量，精度高。OPTM可用于FPD构件（PI膜、ITO膜、CF膜）、光触媒、汽车零件DLC膜、半导体材料氧化层、光学材料薄膜等材料的无损非接触式测量，检测时间仅需1秒。

产品特点：

·非接触非破坏式测量

·高速拍摄自动对焦，1秒即可得到结果

·波长范围广（紫外-近红外），可测量厚度或颜色不同的各种薄膜

·操作简单，无经验也可轻松解析光学常数

·开放而安全的操作台，光栅传感器触发停止，避免损伤。

产品参数：

	OPTM-A1	OPTM-A2	OPTM-A3
波長範圍	230 ~ 800 nm	360 ~ 1100 nm	900 ~ 1600 nm
膜厚範圍	1nm ~ 35μm	7nm ~ 49μm	16nm ~ 92μm
測定時間	1秒 / 1點
光徑大小	10μm (最小約5μm)
感光元件	CCD		InGaAs
光源規格	氘燈+鹵素燈		鹵素燈
電源規格	AC100V±10V 750VA（自動樣品台規格）
尺寸	555(W) × 537(D) × 568(H) mm (自動樣品台規格之主體部分)
重量	約 55kg（自動樣品台規格之主體部分）

注：该仪器未取得中华人民共和国医疗器械注册证，不可用于临床诊断或治疗等相关用途

售后服务承诺

免费上门安装：是

保修期：1年

是否可延长保修期：是

保内维修承诺：保修期内免费更换零件

报修承诺：24小时内电话响应，48小时内到达维修现场

免费仪器保养：不定期回访服务

免费培训：1次免费培训

现场技术咨询：有