第1年
博曼（Bowman）XRF镀层测厚仪 B系列
- 型号：
- P系列
- 产地：
- 美国
博曼P系列产品概述：
P系列提供了测量各种样品尺寸，形状和数量的灵活性。它配备了一个高精度可编程XY平台,可在一个固定阶段提供多种便利因素。操作员可以使用鼠标和软件界面轻松移动到所需的测量位置。可以创建多点程序，通过单击按钮自动测量多个样品位置。精确控制可用于测试关键区域。通过多点编程可以获得更大的采样量。
标准配置包括一个4位置多准直器组件和一个用于测量凹陷区域的变焦相机。可以为应用定制准直器和焦距。固态PIN探测器随附我们的长寿命微焦点X射线管。SDD检测器是可选的。
博曼P系列可满足以下类型用户的需求：
- 小型镀件领域，如紧固件，连接器或PCB
- 需要测试多个样品的多个位置
- 期望在多个样品上实现自动测量
- 样品尺寸和应用经常变化
- 符合IPC-4552A
博曼P系列产品参数：
类别 | 参数 |
元素测量范围： X射线管： 探测器： 分析层数及元素数： 滤波器/准直器： 焦距： 数字脉冲器： 计算机： 相机： 电源： 重量： 马达控制/可编程XY平台： 延伸可编程XY平台： 样品仓尺寸： 外形尺寸： | 13号铝元素到92号铀元素 50 W（50kV和1mA）微聚焦钨钯射线管 190eV及以上分辨率的Si-PIN固态探测器 5层， 每层可分析10种元素，成分分析最多可分析25种元素 4位置一次过滤器/4种规格准直器 可变焦 4096 多通道数字处理器，自动死时间和逃逸峰校正 英特尔, 酷睿 i5 3470 处理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 内存, 微软 Windows 10 专业版, 64位 1 / 4"CMOS-1280×720 VGA分辨率 150W，100-240V，频率范围为47Hz至63Hz 32-50kg 平台尺寸：15"x 13"| 行程：6"x 5" 平台尺寸：25"x 25"| 行程：10"x 10" 高度：140mm（5.5"），宽度：310mm（12"），深度：335mm（13"） 高度：450mm（18"），宽度：450mm（18"），深度：600mm（24"） |
关于美国博曼：
美国博曼（Bowman）是高精度台式镀层测厚仪供应商，拥有近40年的行业经验。博曼XRF系统搭载拥有自主知识产权的镀层检测技术和先进的软件系统，可精准高效地分析金属镀件中元素厚度和成分。博曼XRF系统可同时测量包含基材在内的五层元素，其中任何两层元素可以是合金。同时，博曼XRF系统也可以测量高熵合金（HEAs）。
注：该仪器未取得中华人民共和国医疗器械注册证，不可用于临床诊断或治疗等相关用途
鲁公网安备37021402001368号