FLIR X-HS红外热像仪助力-80°C至+3000°C的宽温度范围内精准测温

来源：中国仪器仪表网作者：张大摄日期：2025-02-21 00:18:09

　　【仪器仪表网 专题推荐】FLIR X-HS系列科学红外热像仪可主要应用在弹道学、无损检测、作应力图PCB和电子部件测试、辐射测量等相关行业。

　　FLIR X-HS系列gao端红外热像仪是一款集精密测量与广泛应用性于一体的高性能科学级设备能够在-80°C至+3000°C的宽温度范围内识别细微至0.02°C的温度变化。

FLIR X-HS系列科学红外热像仪

　　FLIR X-HS系列热像仪配备了高达4TB的大容量高速固态硬盘(SSD)无损记录系统，可确保每一次红外图像采集与数据传输都能以高保真度进行长时间、不间断的保存。无遗漏、无失真。

　　结合其中波红外(MWIR)和长波红外(LWIR)光谱的兼容性，以及10GigE和CoaXPress(CXP)2.1的高速接口，FLIR X-HS系列热像仪不仅满足了严苛的科研需求，更成为专业人士在复杂测试场景中不可或缺的得力助手。

标签: FLIRX-HS 红外热像仪

下一篇：沃特世公司正式推出XBridge™Premier 125Å SEC色谱柱及保护柱
上一篇：容量法水分仪，库仑法水分仪和电位滴定仪的冬季维护保养指南

0 条相关评论

相关资讯

版权与免责声明：
① 凡本网注明“来源：仪器仪表网”的所有作品，均为仪器仪表网(www.yqybw.cn)合法拥有版权或有权使用的作品。未经本网授权不得转载、摘编或利用其它方式使用。已获本网授权的作品，应在授权范围内使用，并注明"来源：仪器仪表网"。违反上述声明者，本网将追究其相关法律责任。
② 本网凡注明"来源：xxx(非本网)"的作品，均转载自其它媒体，目的在于传递更多信息，并不代表本网赞同其观点和对其真实性负责，且不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。如其他媒体、网站或个人从本网转载时，必须保留本网注明的作品di一来源，并自负版权等法律责任。
③ 如涉及作品内容、版权等问题，请在作品发表之日起一周内与本网联系，否则视为放弃相关权利。

更多推荐资讯

更多实时求购商机

更多行业应用(解决方案)

更多资料下载