牛津仪器发布新品：BEX(Backscattered Electron X-ray)成像探测器

　　【仪器仪表网 新品动态】近日，牛津仪器在丽江成功举办“心有所望 进无止境”主题牛津仪器材料分析论坛，并重磅发布了Unity新品——BEX(Backscattered Electron X-ray)成像探测器-采用了一种基于扫描电镜的革命性全新成像技术。

　　基于BEX成像技术，牛津仪器推出了集背散射电子和X射线探测器于一体的Unity系统。Unity的BSE传感器与常规BSE探测器相似，成像区域中更亮的部分意味着密度或平均原子序数更高;X-ray传感器则与传统成像探头不同，通过采集来自样品的特征X射线并转化为成分信息，使得Unity系统可快速生成彩色图片。来自这两个传感器的信号可智能叠加，获得易于解释的样品形貌图。通过瞬时获得样品图像，消除了样品分析过程中的主观臆断和不确定性，使操作人员更有信心地进行样品检索，极大提高分析效率。

　　BEX成像技术是一项基于扫描电子显微镜(SEM)的全新成像技术，将背散射散射电子成像和X射线成像集于一体，能够在常规SEM工作条件下实现对样品形貌、晶体取向和化学成分进行同步、快速、高分辨的成像。在检索样品时BEX信号可流畅地提供包含元素信息的彩色图像，相比于传统成像技术，BEX能够提高样品检测的效率并提供更为可靠和完整的信息。