沃特世发布全新靶向成像解决方案：DESI XS - Xevo TQ Absolute系统

来源：仪器仪表网作者：沃特世日期：2024-11-22 11:54:00

　　【仪器设备新闻新品动态】近日，沃特世发布全新靶向成像解决方案：DESI XS - Xevo TQ Absolute系统，开启靶向质谱成像新纪元。

沃特世DESI XS - Xevo TQ Absolute系统

　　DESI XS - Xevo TQ Absolute系统

　　拥有优异灵敏度的Xevo TQ Absolute三重四极杆质谱仪与沃特世增强型解吸电喷雾电离源DESI XS强强联合，成为靶向质谱成像新标杆。

　　DESI XS - Xevo TQ Absolute系统 特点

　　you秀的成像分辨率，可轻松达到20 µM ，专家级别科学家可通过调整参数显示 5 µM 的空间分辨率;

　　优异的灵敏度，较非靶向质谱成像提升至少5倍;

　　更快的速度，较非靶向质谱成像提升至少5倍;

　　专配的软件为质谱成像定量实验提供完整的工作流程;

　　全面的方案技术支持，沃特世是提供商用DESI/QQQ产品、解决方案和售后服务的供应商;

标签: 沃特世靶向成像方案 Absolute系统

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