【仪器信息网 新品发布】近日，日立分析仪器(上海)有限公司宣布推出EA1280新型能量色散X射线荧光分析仪，可以用于测量环境有害物质。新型EA1280具有中国国家标准(GB标准)建议要求的检测器分辨率，相比于Si - PIN二极管等其他半导体检测器，其工作效率和分析准确度更高。
EA1280X射线荧光分析仪特点及优势：
1. 使用新型高性能半导体检测器(硅漂移检测器(SDD))，便于提高测试工作效率和获得更可靠结果。
2. 采用同轴光学器件进行样品观察和辐照X射线，便于分析各种样品。
3. 配备易用软件，便于操作员仅需接受简单的质量控制和过程控制培训即可使用分析仪。
EA1280 技术规格
型号 | EA1280 |
测量元素范围 | 13Al～ 92U |
准直器（分析光斑尺寸） | 5 mmΦ（1、3 mmΦ：可选） |
初级滤波器（用于优化性能） | 5种模式（4台滤波器+关闭）自动切换 |
样品舱 | 环境大气 |
检测器 | 高性能SDD |
分析仪尺寸 | 520（宽）×600（深）×445（高）mm |
重量 | 约69 kg |
样品舱尺寸 | 304（宽）×304（深）×110（高）mm |
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