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梅特勒托利多推出:全新一代X射线机检测系统—X32

来源:仪器仪表网 作者:碧水蓝天 日期:2024-11-21 16:40:15
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  【仪器设备新闻 新品发布】近日,梅特勒托利多成功推出全新一代X射线机检测系统——X32。该检测系统可提供标准和定制配置,解决多种应用场景;单通道或多通道检测方案提升设备利用率;不仅提供出色的检测性能还兼具产品其他质量检测功能。

X射线机检测系统X32

  全新一代X射线机检测系统—X32特点及优势:

  01全新一代硬件,助力提高检测能力

  提升检测能力,检测更小异物

  X32 X射线检测系统配备梅特勒托利多全新一代的发生器以及检测器,成像更加清晰,让异物无所遁形,配合ContamPlus™ X 射线检测软件算法,增强检测能力同时有效降低误剔率,减少产品浪费。

  02出色的设计方式

  X32可配置的模块化设计

  X32采用可配置的模块化设计,可满足广泛的客户应用。前端开放式设计,即使集成了剔除装置,也可以进行快速维护、清洁等,提升生产效率。操作采用智能设计,界面直观,系统易用。

  03独特的产品认证功能

  借助X32系列独有的Product Validation®功能,可实现持续监控检测设置、显示任何更改以及立即恢复,以便确保机器以you秀性能运行。

  04让合规更轻松

  X32 作为生产线中关键控制点(CCP)的一部分,必须记录生产数据,以供审查,其自带的软件所记录的审计追踪信息和图像库,可帮助企业轻松符合法规要求。

  05完整的产品检测

  多种质量检测

  X32可进行完整性检查,以识别填料不足、产品缺失或破损等情况,以及进行产品密封检测,从而提升总体产品质量。


 
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