日立仪器发布"UH4150AD+"分光光度计 致力于光学元件的分光特性检测

【仪器分析网 新品发布】2022年7月14日，日立科学仪器(北京)有限公司发布"UH4150AD+"分光光度计，专业致力于光学元件的分光特性检测。

UH4150AD+(Advanced Spec Plus)，延续了测量光学元件光谱特性的经典型号UH4150系列，并且提升了其在近红外区域光谱特性的测量性能，成为在先端行业很流行的测量光学元件的设备。

"UH4150AD+"分光光度计的特点及优势如下：

01

支持近红外区域的测光范围 7Abs

用于新相机和传感器的带通滤波器含有遮光性能低于 6 Abs(透射率 0.0001%)至 7 Abs(透射率 0.00001%)的光学薄膜。该产品通过改进低透射率测光时的信号处理，支持近红外区域的透射率为之前的1/100的7 Abs 的测光范围。使得即使在以前无法测量的近红外区域的微弱透射率条件下也能进行高精度测量。

02

配备全新高灵敏度冷却型InGaAs半导体检测器

本次的新产品安装了更灵敏的冷却型InGaAs*4半导体检测器。与之前的型号*5相比，在低透射率下实现有效的低噪声测量，从而能够获得高精度的测量数据。

03

延续平行光束光学系统

由于相机的镜头光学系统采用平行光线设计，因此对于光学元件的评价设备来说：入射光的平行度很重要。本产品采用深受好评已久的近似平行光束，确保透射和反射测量的精确入射角，从而实现高精度的反射测量。