日立科学仪器原子力显微镜AFM100及高性能AFM100 Plus系列上市发售

　　【分析仪器网 新品动态】日立高新技术原子力显微镜AFM100及高性能AFM100 Plus系列上市发售。该系列追求操作性并提高了处理量，可用于科学研究开发以及质量管理，包括高性能AFM100 Plus及其入门型号AFM100两种机型。

　　原子力显微镜AFM100及高性能AFM100 Plus系列产品特点：

　　1.提高了操作性、可靠性及总处理量

　　为简化过去操作繁琐的悬臂更换，采用新开发的预装方式*1悬臂，提高了操作性。而且，通过配备自动向导功能，还可以根据样品的表面形貌，自动设置zui佳测量条件，对探针进行接触状态控制和扫描速度调整等，任何人测量都可以得到稳定的结果，从而提高了数据的可靠性。此外，该机型支持自动多点测量，只需点击一下，从测量，到图像数据分析、保存可一次性完成，大大缩短了数据测量分析时间。

　　2.提高了与本公司SEM(Scanning Electronic Microscope)装置的亲和性

　　选配功能“AFM标记功能”通过采用日立高新技术自主开发的SÆMic.(SÆMic：AFM-SEM相关显微镜法)观察方法,提高了与扫描电子显微镜SEM装置的亲和性。在观察样品的同一位置时，可以充分发挥各个设备的特性，对样品进行机械特性、电气特性、成分分析等检测，易于开展多方面分析。

　　3.实现装置的扩展性和持续性

　　为确保用户可长期使用，该装置标配控制软件免费下载服务和能够自行诊断意外故障因素的自检功能。因此，用户只需自己动手进行软件升级，即可始终保持新性能。

　　AFM作为一种扫描探针显微镜(SPM : Scanning Probe Microscope),使用前端直径为数纳米(1纳米：百万分之一毫米)的尖锐探针扫描样品表面，可同时实现纳米级别的样品表面的形貌观察和物性映射评估。AFM已广泛应用于电池材料、半导体、高分子、生物材料等各个领域的科学研究开发和质量管理。