中国计量院主办的波长色散X射线荧光光谱仪校准技术研讨会在天瑞举行

　　【仪器网  焦点新闻】近日，中国计量科学研究院主办的波长色散X射线荧光光谱仪校准技术研讨会在天瑞仪器顺利举行，本次大会的举行是为更进一步征求各方专家及生产厂家对《波长色散X射线荧光光谱仪校准规范》制定工作的意见和建议。

　　会议邀请了行业知名专家教授、科研单位及该仪器设备领域相关公司代表，就波长色散X射线荧光光谱仪技术未来发展趋势、新动态、应用范围及校准技术等多方面的问题进行了专题讨论。

　　研讨会上，意见和建议征求互动环节现场气氛热烈，与会专家们针对《波长色散X射线荧光光谱仪校准规范》修订内容，从各个视角出发，进行了认真专题讨论，积极主动提出了自己的意见和建议并提供了宝贵的建议。其中黄冲做了《波长色散X射线荧光光谱仪的企业校准方法介绍》的专题报告，详解了天瑞仪器公司过去十年波谱研发过程中所总结的波谱仪器测试方法，比较了《JJG810-1993波长色散X射线荧光光谱仪检定规程》和《ISO_TR18231-2016.9300》各自优点和缺点，供各位专家参考使用。