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日立分析仪器(上海)有限公司  

X射线荧光测厚仪,X荧光光谱、XRF(能量色散型X荧光,同步热分析仪(STA),差示扫描量热仪(DSC/DTA),气质联用(GC-MS),光电直读光谱仪,激光诱导击穿光谱仪(LIBS)

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日立分析仪器专注于高科技分析解决方案,帮助数以千计的企业降低成本,降低风险,提高生产效率。我们实验室级和强大高性能现场检测设备如光电直读光谱仪、X射线荧光光谱(XRF)、X荧光测厚仪(镀层测厚仪)、激光诱导击穿光谱仪(LIBS)、油品分析仪、土壤分析仪等为客户提供材料和涂镀层分析,在整个生产周期中增加价值,包括从原材料勘探到来料检验、生产和质量控制到再循环。 [详细介绍]
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